Каталог
Специальные микроскопы
- Сортировать:
- Вид таблицей
-
Полевой эмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS Jeol
Современный аналитический электронный микроскоп JEM-2200FS оснащен полевой эмиссионной пушкой (FEG) напряжением 200 кВ и встроенным энергетическим фильтром (Omega-фильтр), который обеспечивает получение изображений с нулевыми потерями, устраняя неупругие электроны, что приводит к четким изображениям с высокой контрастностью. Изображения, отфильтрованные по энергии, формируемые электронами с низкими потерями или потерями в сердечнике, предоставляют информацию о химическом состоянии или элементном составе образца. Также доступна спектроскопия для элементного и химического анализа образцов.
Внутриколонный энергетический фильтр (фильтр Омега)
Фильтр энергии, встроенный в колонку, позволяет получать изображения с энергетической фильтрацией и спектры потерь энергии электронов. Оптимально спроектированный фильтр обеспечивает получение изображений без искажений.
Система управления
Основные компоненты JEM-2200FS, такие как оптическая система, гониометрический столик и система эвакуации, полностью управляются с помощью ПК. Эта система обеспечивает стабильно высокое качество данных.
Система визуализации
Новая система визуализации, состоящая из четырехступенчатых промежуточных линз и двухступенчатых проекционных линз, позволяет получать энергетически отфильтрованные просвечивающие изображения без вращения и дифракционные картины в широком диапазоне увеличений и длин камеры.
Пьезоуправляемый гониометр
Новый предметный столик гониометра, оснащенный пьезоэлектрическим устройством, обеспечивает плавную работу при поиске полей зрения на атомном уровне.
Интеграция с другими инструментами
Микроскоп полностью управляется с ПК. Конструктивная концепция позволяет интегрировать систему EDS и ПЗС-камеры.
Характеристики
Конфигурация ?1 Сверхвысокое разрешение(UHR) Высокое разрешение(HR) Высокий наклон образца(HT) Крио(CR) Высокая контрастность(HC) Разрешение Точечная?решетка 0,19 нм0,1 нм 0,23 нм0,1 нм 0,25 нм0,1 нм 0,27 нм0,14 нм 0,31 нм0,14 нм Энергетическое разрешение 0,8 эВ (полная ширина на полувысоте с нулевыми потерями) Точное напряжение 160 кВ?200 кВ ?2 Минимальный размер шага?Энергетический сдвиг 50 В,максимум 3000 В (с шагом 0,2 В) Источник электронов Эмиттер ZrO/W(100) Шоттки Яркость ?4×10 8 А/см 2 ? ср Вакуум ×10 -8 Па порядка Ток зонда 0,5 нА при зонде 1 нм Стабильность мощности Соответствующее напряжение ?1×10 -6?мин ток OL ?1×10 -6?мин Фильтр тока ?1×10 -6?мин Объективная линза Фокусное расстояние 1,9 мм 2,3 мм 2,7 мм 2,8 мм 3,9 мм Сферическая?аберрация 0,5 мм 1,0 мм 1,4 мм 2,0 мм 3,3 мм Хроматическая?аберрация 1,1 мм 1,4 мм 1,8 мм 2,1 мм 3,0 мм Минимальный шаг 1,0 нм 1,4 нм 1,8 нм 2,0 нм 5,2 нм Размер пятна (диаметр) режим ТЕМ от 2 до 5 нм от ? до 30 нм режим ЭДС 0,5–2,4 нм 1,0–2,4 нм – 4–20 нм режим NBD – – режим КБД 1,0–2,4 нм – CB Дифракция Угол схождения? (2α) от 1,5 до 20 мрад и более – Угол приема ±10 ° – Увеличение режим MAG ×2000–1500000 ×2000–1200000 ×1500–1000000 ×1200–600 000 Режим LOW MAG ×50 до 1500 Режим SA MAG ×10 000–800 000 ×8000–600000 ×8000–500000 ×5000–400000 Размер поля зрения для изображения, выбранного по энергии Диаметр 80 мм на конечной плоскости изображения (пленка) при выборе 10 эВДиаметр 25 мм на конечной плоскости изображения (пленка) при выборе 2 эВ Длина камеры Узнать цену -
Электронный микроскоп JEM-2100Plus Jeol
JEM-2100Plus — это многоцелевой просвечивающий электронный микроскоп, сочетающий в себе проверенную оптическую систему JEM-2100 с усовершенствованной системой управления для ещё большей простоты эксплуатации. JEM-2100Plus обеспечивает превосходную производительность благодаря интуитивно понятному управлению и подходит для широкого спектра задач: от материаловедения до медико-биологических исследований.
Простота эксплуатации
Управляющее программное обеспечение TEM Center, совместимое с 64-разрядной ОС Windows®, имеет интуитивно понятный пользовательский интерфейс, разработанный для максимального удобства эксплуатации.
Расширенная интеграция
Центр TEM позволяет пользователю управлять дополнительными аксессуарами, такими как камера высокого разрешения и устройство наблюдения со сканирующим изображением (BF/DF), посредством интуитивно понятного взаимодействия пользователя с системой.
Автоматизированные функции
JEM-2100Plus оснащен полным набором автоматизированных функций, включая автофокусировку, автоматическую регулировку контрастности/яркости, автоматическую экспозицию, автоматический монтаж, компенсацию дрейфа и навигацию по сцене.
Программное обеспечение для просмотра и редактирования изображений
Программное обеспечение Viewer поддерживает просмотр и редактирование изображений в режиме офлайн.
Характеристики
Конфигурация Сверхвысокое разрешение?1
(UHR)Высокое разрешение?1
(HR)Высокий наклон образца?1
(HT)Крио?1
(CR)Высокая контрастность?1
(HC)Разрешение (нм) Точка 0,194 0,23 0,25 0,27 0,31 Решетка 0,14 0,14 0,14 0,14 0,14 Узнать цену -
Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200 Jeol
JEM-F200 — это просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитической производительностью в сочетании с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом для многоцелевого использования.
Наблюдения с высоким разрешением в просвечивающем/сканирующем электронном микроскопе от высоких до низких ускоряющих напряжений
JEM-F200 оснащен электронной пушкой с холодной полевой эмиссией, которая гарантирует высокую стабильность, яркость и высокое энергетическое разрешение (<0,33 эВ).
Эта электронная пушка эффективно обеспечивает более высокое разрешение изображений, минимизируя хроматические аберрации, возникающие из-за разброса энергии источника электронов.
Кроме того, благодаря использованию более чем 10-летнего опыта JEOL в разработке, нам удалось значительно повысить как механическую, так и электрическую стабильность.Высокопроизводительный и высокоточный EDS-анализ
JEM-F200 может быть одновременно оснащён двумя кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD) большой площади, что обеспечивает высокочувствительный анализ.
Большая площадь и высокая чувствительность позволяют проводить эффективный EDS-анализ за гораздо меньшее время и с минимальным повреждением образца.
Кроме того, использование высокоскоростной коррекции дрейфа без потерь с помощью живых STEM-изображений во время EDS-картирования обеспечивает эффективные измерения, одновременно снижая повреждение образца электронным пучком.Анализ EELS с высоким энергетическим разрешением
Генератор конвергентных электронов (CFEG) JEM-F200 позволяет проводить анализ состояний химических связей и электронной структуры с высоким энергетическим разрешением, превосходящим возможности полевой электронной пушки Шоттки.
Это стало возможным благодаря использованию холодной полевой электронной пушки, гарантирующей высокое энергетическое разрешение (<0,33 эВ) с использованием метода электронов с высокой электропроводностью (EELS) (опция).Простота эксплуатации с минимальным стрессом даже для новичков
JEM-F200 оснащен интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, делающим акцент на удобстве использования.
Он предлагает полный набор автоматических функций для ПЭМ и СТЭМ, что упрощает работу даже для новичков.
Кроме того, для облегчения установки и извлечения держателей образцов встроен SPECPORTER™, который обеспечивает безопасную и автоматизированную установку держателей образцов.
Кроме того, предметный столик оснащен приводом Pico, обеспечивающим точное перемещение с точностью до пикометра без использования пьезопривода.
Это обеспечивает широкий диапазон регулировок поля зрения, от визуализации всей сетки образца до визуализации на атомном уровне.Характеристики
Спецификация Сверхвысокое разрешение Высокое разрешение Разрешение TEM
(при 200 кВ)Разрешение точки
Разрешение решетки Предел
информации0,19 нм
0,1 нм
?0,11 нм (с холодным FEG)
?0,12 нм (с Шоттки FEG)0,23 нм
0,1 нм
?0,11 нм (с холодным FEG)
?0,12 нм (с Шоттки FEG)Разрешение STEM
(при 200 кВ)Изображение HAADF-STEM 0,14 нм (с холодным FEG)
0,16 нм (с Шоттки FEG)0,14 нм (с холодным FEG)
0,16 нм (с Шоттки FEG)Электронная пушка Холодная полевая электронная пушка
ШотткиУскоряющее напряжение 20 кВ?200 кВ
(по умолчанию можно выбрать 200 кВ, 80 кВ. Другие ускоряющие напряжения являются опциями.)Движение образца * X,Y ±1,0 мм Z ±0,1 мм X,Y ±1,0 мм Z ±0,2 мм Угол наклона образца * TX/TY (Держатель с двойным наклоном) ±25°/ ±25°
TX (Держатель с высоким наклоном) ±60°TX/TY (Держатель с двойным наклоном) ±35° / ±30°
TX (Держатель с высоким наклоном) ±80°Основные устанавливаемые опции Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (EDS), спектроскопия потерь энергии электронами (EELS),
цифровая камера, система томографии TEM/STEM/EDSУзнать цену -
Аналитический электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM200F NEOARM Jeol
“NEOARM” / JEM-ARM200F оснащен уникальной пушкой JEOL с холодной полевой эмиссией (Cold FEG) и новым Cs-корректором (ASCOR), компенсирующим аберрации высшего порядка. Сочетание Cold FEG и ASCOR позволяет получать изображения с атомным разрешением не только при ускоряющем напряжении 200 кВ, но и при низком напряжении 30 кВ.
“NEOARM” также оснащен автоматизированной системой коррекции аберраций, включающей новый алгоритм коррекции аберраций JEOL для автоматической, быстрой и точной коррекции аберраций. Эта система обеспечивает более высокую пропускную способность при получении изображений с атомным разрешением.
Кроме того, в стандартную комплектацию входит новый STEM-детектор, обеспечивающий повышенную контрастность светлых элементов. Повышение контрастности светлых элементов достигается благодаря новой технологии STEM-визуализации (e-ABF: улучшенный ABF), что облегчает наблюдение за материалами, содержащими светлые элементы, даже при низких ускоряющих напряжениях.
Комната микроскопа отделена от операционной для возможности удаленного управления. Кроме того, были приняты новые концептуальные цвета продукции JEOL: «чистый белый» и «JEOL silver», что привело к изысканному внешнему дизайну «NEOARM».Характеристики
Разрешение?1 Изображение STEM HAADF 70 мкм (200 кВ), 100 мкм (80 кВ), 160 мкм (30 кВ)
Предел информации TEM 100 мкм (200 кВ), 110 мкм (80 кВ), 250 мкм (30 кВ)Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG): стандартная Корректор аберраций STEM: NEO ASCOR HOAC?2, TEM: CETCOR с DSS?3 Система автоматической настройки корректора Система автоматической настройки NEO JEOL COSMO™. Встроенная функция Ad-hock tune (SIAM) Ускоряющее напряжение 30–200 кВ (80, 200 кВ: стандарт, 30, 60, 120 кВ: опционально) Режим без магнитного поля Настройки линзы Лоренца (×50–80 тыс. на экране): стандартные Система перемещения образцов Сверхточный механический привод по осям X, Y и Z, сверхточный пьезоэлектрический привод: стандарт Тип операции ОперацияRDS?4 Узнать цену -
Аналитический микроскоп атомного разрешения JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Jeol
Усовершенствованная модель “GRAND ARM™2”.
Новая модель “GRAND ARM™2” позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением и высокочувствительным анализом в широком диапазоне ускоряющих напряжений.FHP2 — новый полюсный наконечник объектива
Полюсный наконечник объектива FHP оптимизирован для наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением.
Сохраняя эту возможность, форма полюсного наконечника была дополнительно оптимизирована для телесного угла рентгеновского излучения и угла выхода рентгеновских лучей больших двухканальных детекторов (158 мм²).
В результате эффективная чувствительность FHP2 более чем вдвое выше, чем у FHP. Он обеспечивает субангстремное разрешение при картировании элементов методом EDS.Характеристики
Версия Конфигурация сверхвысокого разрешения Конфигурация высокого разрешения Полюсный наконечник объектива ФХП2 ВГП Стандартное ускоряющее напряжение 300 кВ, 80 кВ Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка STEM-разрешение Установлен корректор STEM Cs 300 кВ / 80 кВ 53 вечера / 96 вечера 59 вечера / 111 вечера Разрешение TEM Установлен корректор TEM Cs 300 кВ / 80 кВ Разрешение решетки 50пм / – Разрешение решетки 60 пм / – Предел нелинейной информации
60 пм / 90 пмПредел нелинейной информации
70 пм / 100 пмЛинейный информационный предел
90 пм / 160 пмЛинейный информационный предел
100 пм / 170 пмМаксимальный угол наклона При использовании держателя наклона образца JEOL для анализа X: ± 30°/ Y: ± 27° X: ± 36°/ Y: ± 31° При использовании держателя образца с высоким наклоном X?± 90° X?± 90° Узнать цену -
Электронный микроскоп без магнитного поля JEM-Z200MF Jeol
JEM-Z200MF — это электронный микроскоп с объективом, не создающим магнитного поля, который обеспечивает наблюдение с высоким разрешением без приложения сильного магнитного поля к образцам. В сочетании с корректором аберраций высшего порядка возможна визуализация с атомным разрешением.
Объектив без магнитного поля
Объектив JEM-Z200MF состоит из двух линз (FOL/BOL), расположенных над и под образцом. Магнитные поля этих двух линз компенсируются в плоскости образца, создавая объектив с бесполевой средой и коротким фокусным расстоянием. Короткое фокусное расстояние обеспечивает низкую хроматическую аберрацию и высокую общую стабильность. В сочетании с корректором аберраций высшего порядка возможна визуализация с атомным разрешением. Магнитное поле в направлении Z может быть приложено к образцу с помощью встроенных катушек, расположенных вокруг самой линзы.
Двойной корректор
JEM-Z200MF оснащен системой двойной коррекции как со стороны освещения, так и со стороны формирования изображений, что позволяет получать изображения высокого разрешения как в сканирующем, так и в просвечивающем электронном микроскопе.
Система освещения
Корректор STEM может работать в двух режимах: один подходит для наблюдений с высоким разрешением, другой идеально подходит для высокочувствительных DPC-исследований.
Характеристики
Основной инструмент
Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG) Ускоряющее напряжение 200 кВ Энергетический фильтр Фильтр энергии Omega в колонке Предметный столик / Автоматизированная система обмена образцами
Стадия образца Охлаждающая жидкость Жидкий азот.
Встроенная автоматизированная система заправки жидким азотом.Температура охлаждения образца 100К или меньше Положение измерения температуры Образец, криоэкран,резервуар с жидким азотом2 Движения образцов X, Y Моторный привод (перемещения: ±1 мм)
Пьезоэлектрические элементы (перемещения: ±0,5 мкм)З Моторный привод (перемещения: ±0,2 мм) Tilt-X Привод (наклон по оси X: не применимо[HR] / ± 70°[WG]) Вращение в плоскости образца 0° или 90° Система обмена образцами Встроенная система автоматизированного криопереносас воздушным шлюзом Температура охлаждения
(камера обмена образцами)105К или меньше Картридж для обмена образцами Одновременно можно менять до 4 образцов. Этап парковки образцов Возможно содержание до 12 особей. Узнать цену -
Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп JEM-ACE200F Jeol
JEM-ACE200F — это электронный микроскоп, совместимый с системой, позволяющей оператору получать данные, не управляя микроскопом, создавая инструкции для рабочего процесса.
JEM-ACE200F унаследовал аппаратные технологии высокопроизводительного просвечивающего электронного микроскопа JEM-ARM200F и многоцелевого экспонометра с полевой электронной микроскопией JEM-F200, что обеспечивает высокую светосилу и аналитические возможности благодаря обновлённому изысканному внешнему дизайну.Базовая платформа
- Стандартная технология Cold-FEG.
- Возможна установка корректора Cs.
- Высокоскоростной и высокочувствительный столик. В три раза быстрее существующего моторного привода и обеспечивает точное управление движением, аналогичное пьезоприводу.
Простота эксплуатации
- Интуитивно понятное управление доступно даже неопытному оператору ТЭМ
- Минимизирует операции, выполняемые с помощью панели управления, а окончательное изображение можно получить, нажимая кнопки на экране по порядку.
- Регулировку фокуса можно выполнить с помощью мыши.
- Возможна интеграция с камерой Gatan.
- Функции автоматической настройки микроскопа
- Автофокусировка, автоматический астигматизм, автоматическая регулировка высоты образца, автоматическое центрирование луча, автоматическая ориентация и т. д.
Функция автоматического сбора данных
- Программное обеспечение для рецептов «Центр автоматизации» обеспечивает автоматический сбор данных
- Изображение TEM, изображение STEM, элементное картирование с помощью EDS.
- Возможна обработка нескольких образцов на сетке.
Связь с программным обеспечением для измерения критических размеров
- Калибровка увеличения доступна для каждого набора увеличений на стороне ПЭМ.
- Автоматическое измерение критических размеров доступно для данных, полученных более чем одним JEM-ACE200F.
Удаленная работа
- Операция в следующей комнате
- Удалённое управление и одновременное наблюдение в более чем одном месте (в зависимости от сетевой среды)
- Позволяет вести наблюдение во время обсуждения вопросов с представителями различных подразделений компании.
Повышение устойчивости к воздействию окружающей среды за счет ограждения колонны
- Способствует контролю воздействия изменений шума, потока воздуха и температуры в помещении.
- Дополнительные меры звукоизоляции возможны путем крепления акустического материала к внутренним стенам.
От инструментованализакинструменту анализа
– Автоматизированный анализ STEM/TEM поможет улучшить процессы и стабильно улучшить контроль качества –
Характеристики
Разрешение TEM (при 200 кВ) Изображение частицы ≤0,21 нм
Изображение решетки 0,1 нм
Предел информации ≤0,11 нмРазрешение STEM (при 200 кВ) Изображение DF STEM ≤0,136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0,1 нм
Изображение BF STEM ≤0,136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0,1 нмЭлектронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (CFEG) Ускоряющее напряжение 60 кВ – 200 кВ
(80 кВ, 200 кВ; стандарт, другие напряжения: опция)Движения образцов X,Y ±1,0 мм Z ±0,2 мм Угол наклона образца TX/TY (двухосевой держатель наклона образца) ±20°?±25°
TX (специальный держатель образца с высоким наклоном) ±80°Параметры JEOL 100 мм2SDD (Dual), EELS, корректор Cs, центр автоматизации, томография Узнать цену -
Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп CRYO ARM™ 200?(JEM-Z200CA) Jeol
Криоэлектронная микроскопия зарекомендовала себя как метод, позволяющий наблюдать клетки и биологические молекулы без фиксации и окрашивания. Благодаря недавнему стремительному развитию аппаратного и программного обеспечения, этот метод микроскопии приобретает всё большую значимость как метод структурного анализа на атомном уровне. Кроме того, были разработаны технологии, позволяющие анализировать мембранные белки без кристаллизации, что привело к более широкому использованию криоэлектронной микроскопии для разработки лекарственных препаратов. Таким образом, внедрение криоэлектронных микроскопов (крио-ЭМ) в университетах и исследовательских лабораториях значительно ускоряется. Чтобы удовлетворить потребности пользователей крио-ЭМ, компания JEOL разработала новый крио-ЭМ «CRYO ARM™ 200?», который автоматически получает данные изображений для анализа отдельных частиц в течение длительного периода времени, используя полюсный наконечник высокого разрешения (HR), а также применим для криотомографии и микроэлектронной томографии (МЭД) на полюсном наконечнике с широким зазором (WG).
Автоматизированная система обмена образцами
Система состоит из предметного столика для образцов, охлаждаемых до температуры жидкого азота, и системы криопереноса для автоматической передачи охлажденных образцов на криостатик. Жидкий азот автоматически подается в резервуар с жидким азотом по мере необходимости. Эта автоматизированная система позволяет хранить до 12 образцов и заменять один или несколько образцов, в то время как остальные образцы охлаждаются между предметным столиком и системой обмена образцами. Эти уникальные возможности позволяют гибко планировать микроскопию.
Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG)
Холодный FEG создаёт электронный пучок высокой яркости с очень малым разбросом энергии, обеспечивая высокую когерентность. Благодаря этому CRYO ARM™200?обеспечивает получение изображений с высоким разрешением и высокой контрастностью.
Фильтр энергии Incolumn (омега-фильтр)
CRYO ARM™ 200?, оснащенный встроенным энергетическим фильтром (омега-фильтром),получает изображения с энергетической фильтрацией и спектры потерь энергии. Изображение без потерь, полученное с помощью микроскопа, обеспечивает высокую контрастность и минимальную хроматическую аберрацию.
Программное обеспечение для автоматизированного получения изображений для анализа отдельных частиц
CRYO ARM™200?оснащен автоматизированным программным обеспечением. Оно позволяет автоматически обнаруживать отверстия на сетке образца для эффективного получения изображений для анализа отдельных частиц.
Характеристики
Основной инструмент
Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG) Ускоряющее напряжение 200 кВ Энергетический фильтр Фильтр энергии Omega в колонке Предметный столик / Автоматизированная система обмена образцами
Стадия образца Охлаждающая жидкость Жидкий азот.
Встроенная автоматизированная система заправки жидким азотом.Температура охлаждения образца 100К или меньше Положение измерения температуры Образец, криоэкран,резервуар с жидким азотом2 Движения образцов X, Y Моторный привод (перемещения: ±1 мм)
Пьезоэлектрические элементы (перемещения: ±0,5 мкм)З Моторный привод (перемещения: ±0,2 мм) Tilt-X Привод (наклон по оси X: не применимо[HR] / ± 70°[WG]) Вращение в плоскости образца 0° или 90° Система обмена образцами Встроенная система автоматизированного криопереносас воздушным шлюзом Температура охлаждения
(камера обмена образцами)105К или меньше Картридж для обмена образцами Одновременно можно менять до 4 образцов. Этап парковки образцов Возможно содержание до 12 особей. Узнать цену -
Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп CRYO ARM™ 300 (JEM-Z300FSC) Jeol
JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), оснащенный пушкой холодной полевой эмиссии, встроенным в колонку энергетическим фильтром Omega, столиком охлаждения жидким азотом с боковым вводом и автоматической системой смены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (крио-ЭМ), позволяющий наблюдать биомолекулы при криогенной температуре. Автоматизированная система смены образцов позволяет хранить до 12 образцов. Кроме того, система позволяет заменять один или несколько образцов произвольной формы, что обеспечивает гибкое планирование исследований. Кроме того, совместное использование нового встроенного в колонку энергетического фильтра Omega и фазовой пластины Hole-free значительно повышает контрастность изображений биологических образцов, полученных с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ).
Автоматизированная система обмена образцами
Система состоит из предметного столика для охлаждения образцов до температуры жидкого азота и системы криопереноса для автоматической передачи охлажденных образцов на криостол. Жидкий азот автоматически подается в резервуар с жидким азотом по мере необходимости. Эта автоматизированная система позволяет хранить до 12 образцов и осуществлять замену одного или нескольких образцов, в то время как остальные образцы охлаждаются между предметным столиком и системой замены образцов.
Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG)
Холодный FEG генерирует электронный пучок высокой яркости с очень малым разбросом энергии, обеспечивая высокую когерентность. Благодаря этому CRYO ARM™ 300 обеспечивает получение изображений с высоким разрешением и высокой контрастностью.
Фильтр энергии Omega в колонке
CRYO ARM™ 300, оснащенный встроенным энергетическим фильтром Omega, получает изображения с энергетической фильтрацией и спектры потерь энергии. Изображения с нулевыми потерями, полученные с помощью микроскопа, обеспечивают высокую контрастность и сниженную хроматическую аберрацию.
Программное обеспечение для автоматизированного получения изображений для анализа отдельных частиц
CRYO ARM™ 300 оснащен автоматизированным программным обеспечением. Оно позволяет автоматически обнаруживать отверстия на сетке образца для эффективного получения изображений для анализа отдельных частиц.
Характеристики
Основной инструмент
Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (Cold FEG) Ускоряющее напряжение 300 кВ Энергетический фильтр Фильтр энергии Omega в колонке Максимальный угол наклона образца ± 70° Предметный столик / Автоматизированная система обмена образцами
Стадия образца Охлаждающая жидкость Жидкий азот.
Встроенная автоматизированная система заправки жидким азотом.Температура охлаждения образца 100К или меньше Положение измерения температуры Образец, криоэкран,резервуар с жидким азотом2 Движения образцов X, Y Моторный привод (перемещения: ±1 мм)
Пьезоэлектрические элементы (перемещения: ±0,5 мкм)З Моторный привод (перемещения: ±0,2 мм) Tilt-X Моторный привод (наклоны: ±70°) Вращение в плоскости образца 0° или 90° Система обмена образцами Встроенная система автоматизированного криопереносас воздушным шлюзом Температура охлаждения
(камера обмена образцами)105К или меньше Картридж для обмена образцами Одновременно можно менять до 4 образцов. Этап парковки образцов Возможно содержание до 12 особей. Узнать цену -
Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Jeol
CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, предназначенный для наблюдения образцов, чувствительных к электронному пучку, таких как белки, для анализа отдельных частиц, томографии и микроэлектронной микроскопии. Эта система обеспечивает повышенную стабильность, производительность и простоту использования по сравнению с предыдущим поколением криоэлектронных микроскопов. Более того, это многофункциональная система, способная выполнять все задачи — от скрининга до сбора данных, что обеспечивает большую гибкость в работе на объектах заказчика в соответствии с потребностями учреждения. Эти усовершенствования позволяют получать высококачественные изображения простыми действиями даже тем, кто никогда ранее не работал с электронным микроскопом.
Быстрый сбор
Система JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II обеспечивает высокоскоростной сбор данных благодаря сочетанию смещения пучка с точным перемещением предметного столика образца.
Превосходное управление пучком этой системы минимизирует наклон пучка, вызывающий аберрацию в виде комы, даже при смещении пучка.
Это позволяет увеличить производительность без ухудшения качества изображения.Система нулевой шкалы
Помимо обычного луча, CRYO ARM™ 300 II оснащен уникальным режимом освещения «по Келеру».
Этот режим исключает интерференционные полосы и исключает повреждение электронным пучком областей, не используемых для визуализации, позволяя получать больше изображений с меньшей площади.Высокоточный привод ступени
CRYO ARM™ 300 II оснащён столиком без вращения. Преимущество этого столика заключается в превосходной позиционной воспроизводимости. Даже при перемещении образцов между колонной микроскопа и хранилищем образцов, вы можете повторно использовать изображения с низким увеличением, которые мы называем «глобальной картой». Это позволяет получить хорошие условия для получения высококачественных данных, поскольку воздействие электронного пучка значительно снижено.
Характеристики
Основной инструмент
Электронная пушка Холодная полевая эмиссионная пушка (новая CFEG) Стандартное ускоряющее напряжение 300 кВ, 200 кВ Энергетический фильтр Фильтр энергии Омега в колонке (новый фильтр Омега) Аксессуар Фазовая пластина без отверстий Предметный столик / Автоматизированная система обмена образцами / Хранение образцов
Стадия образца Охлаждающая жидкость Жидкий азот, встроенная автоматизированная система заправки жидким азотом Температура охлаждения образца 100 К или меньше Измерение температуры Рядом с образцом, криоэкран, рядом срезервуаром LN2 Движения образцов X, Y Моторный привод (Движения: ± 1 мм)
Пьезоэлектрические элементыЗ Моторный привод (Движения: ± 0,2 мм) Tilt-X Моторный привод (наклон: ± 70°) Вращение Возможность установки на 0° или 90° в плоскости образца Система обмена образцами Воздушный шлюз, встроенная автоматизированная система криопереноса Температура охлаждения 105 К или меньше Картридж для обмена образцами Одновременно можно менять до 4 образцов. Хранение образцов Можно содержать до 12 экземпляров. Охлаждающая жидкость Жидкий азот, встроенная автоматизированная система заправки жидким азотом Температура охлаждения 105 К или меньше Узнать цену -
Автоматизированная система визуализации клеток ImageXpress Pico Molecular Devices
ИзображениеXpress®Автоматизированная система визуализации клеток Pico сочетает в себе получение изображений с высоким разрешением и мощный анализ с оптимизированным рабочим процессом. Он включает CellReporterXpress.® программное обеспечение для сбора данных и анализа, а также широкий набор предварительно сконфигурированных протоколов. Автоматическая настройка параметров анализа сокращает время обучения, поэтому вы можете быстро приступить к проведению экспериментов. Если вы ищете флуоресцентную визуализацию или цифровую микроскопию, простота и доступность автоматизированного имидж-сканера теперь вполне достижимы.
Узнать цену -
Имидж-сканер CloneSelect Molecular Devices
CloneSelect™ Imager — это высокопроизводительная автоматизированная система для визуализации и анализа формирования и слияния колоний млекопитающих. Отслеживать рост колонии из одной клетки не составляет труда, поскольку чашки со штрих-кодом отслеживаются с течением времени. Автоматизированное получение и анализ изображений флуоресценции или белого света обеспечивает точные, объективные и последовательные результаты. Благодаря способности визуализировать 96-луночный планшет за 90 секунд имидж-сканер увеличит пропускную способность и производительность.
ОСНОВНЫЕ ПРЕИМУЩЕСТВА
- Оцените слияние клеток объективно и количественно.
- Оптимизация рабочего процесса: изображение, анализ, отчет
- Делайте снимки каждой лунки в любое время, чтобы отслеживать образование колоний и проверять моноклональность.
Отслеживание и запись роста клеток
- Автоматически сканирует каждую лунку в каждом планшете. Алгоритмы оптимизированы для точного обнаружения клеток и учитывают различные типы клеток и условия.
- Создает кривые роста для каждой лунки.
- Позволяет просматривать и отслеживать каждую лунку в каждом планшете.
- Открывает дополнительную информацию о клеточной морфологии и понимании особенностей роста.
Проверка моноклональности
- Посев одной клетки на лунку и получение изображения в любой момент времени
- Сосредоточьтесь на лунках с одним локусом роста и просматривайте историю изображений для проверки моноклональности.
- Проверьте происхождение колонии, отслеживая историю изображений каждой лунки. Дополнительная функция отчета о моноклональности автоматически объединяет подтверждающие изображения в отчет, которым легко поделиться.
Анализ образования колоний
- После посева в матрицу, способствующую образованию колоний, визуализируйте каждую лунку в любой момент времени.
- Анализ интересующих скважин, например демонстрирующее ингибирование роста колоний
- Экспорт номера колонии и площади колонии для каждой лунки.
Оптимизация условий культивирования клеток для обеспечения низкой плотности или клонального роста.
- Определите условия роста с низкой плотностью клеток в течение двухнедельного периода.
- Достижение устойчивого и расширенного диапазона роста по сравнению с базовыми данными
Узнать цену -
Автоматизированная система визуализации ImageXpress Nano Molecular Devices
ImageXpress® Автоматизированная система визуализации Nano позволяет исследователям быстрее получать более качественные данные и улучшать сотрудничество с коллегами — где угодно и когда угодно. Экономичная автоматизированная микроскопия позволяет исследователям масштабировать свои эксперименты до оценок на уровне нескольких слайдов или микропланшетов. Удобный интерфейс программного обеспечения прост в освоении и обеспечивает возможность удаленного запуска заранее заданных протоколов для определенных типов экспериментов, а также возможность создания собственных протоколов.
Ключевые преимущества :
- Автоматизированная визуализация теперь доступна в каждой лаборатории
- Правильная чувствительность для масштабирования ваших микроскопических исследований
- Получайте, делитесь и представляйте данные – независимо от того, где вы находитесь.
- Программное обеспечение включает 25 предопределенных протоколов анализа и простые, линейные рабочие процессы, которые помогут вам быстро приступить к работе и продвинуть ваши исследования вперед.
ImageXpress® Система Nano основана на более чем 30-летнем опыте работы в области клеточной визуализации и спроектирована таким образом, чтобы надежно ускорить темпы ваших исследований.
Узнать цену -
.png)
Система досмотра высокого содержания ImageXpress HCS.ai Molecular Devices
ИзображениеXpress® HCS.ai Система скрининга высокого содержания захватывает ваше воображение высококачественными изображениями и анализом, позволяя вам с легкостью получать кристально чистые изображения и надежные данные, которые вам нужны.
Работает на интуитивно понятном MetaXpress® Приобретая программное обеспечение, система ImageXpress HCS.ai легко интегрируется с AI-driven IN Carta® Программное обеспечение для анализа изображений для глубокого анализа. Усовершенствованная модульная конструкция обеспечивает гибкость выполнения широкого спектра 2D- и 3D-анализов в одном решении, а также позволяет легко модернизировать его для удовлетворения растущих лабораторных потребностей.
- Модульность и интуитивно понятный интерфейс для дополнительной универсальности: система ImageXpress HCS.ai имеет модульную конструкцию и широкий набор настраиваемых параметров конфигурации для удовлетворения ваших текущих потребностей, а также возможность обновления на месте в соответствии с вашими будущими требованиями. Недавно обновленный MetaXpress®Программное обеспечение Acquire — это интуитивно понятное решение для пользователей любого уровня опыта, обеспечивающее прямой доступ к надежным и информативным данным.
- Изображения более высокого качества и превосходный анализ данных для более глубокого понимания: получайте высококачественные изображения для широкого спектра типов анализов, получайте изображения исключительного качества из ваших 3D-образцов и открывайте новые открытия с помощью IN Carta на базе AI-.® Программное обеспечение для анализа изображений.
- Более быстрый сбор данных для ускорения высокопроизводительных рабочих процессов: повысьте производительность лаборатории за счет получения изображений большего количества пластин за меньшее время и упрощения процесса обучения для новых пользователей. Новый дизайн, удобный для автоматизации, позволяет легко интегрироваться в автоматизированные рабочие процессы для получения более быстрых и надежных результатов.
Узнать цену
Получите коммерческое предложение в течение 1 часа
Менеджер подготовит коммерческое предложение и позвонит, если понадобится уточнить детали вашего заказа
С 2010 года мы поставляем оборудование с заводов Европы. Берем на себя все — от подбора оборудования до внедрения на предприятии
Все сотрудники имеют высшее образование, закончили ведущие химические вузы страны, такие как РХТУ им Менделеева.
У большинства компаний срок ожидания составляет 10-12 недель.
Оборудование хранится на сухом отапливаемом складе, где поддерживается ровная температура.
Работаем с PonyExpress и Деловыми линиями. Вы также можете выбрать свою транспортную компанию или забрать товар со склада в Москве.
В случае любых неполадок за свой счет выполним ремонт в сервисном центре или на заводе-изготовителе. Или бесплатно заменим прибор на новый.
Производим пуско-наладку оборудования, валидацию, обучение сотрудников. Если нужно, привлекаем инженеров с заводов- изготовителей.
