Спектрометр ZSX Primus IV Rigaku

Последовательный дисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр с трубкой сверху

Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок

Как последовательный дисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр (WDXRF) с трубкой сверху, Rigaku ZSX PrimusIV обеспечивает быструю количественную оценку основных и второстепенных атомных элементов, от бериллия (Be) до урана (U), в широком разнообразии типов образцов — с минимальными стандартами.

Новое программное обеспечение ZSX Guidance для экспертов XRF

ZSX Guidance поддерживает вас во всех аспектах измерения XRF и анализа данных. Может ли точный анализ выполняться только экспертами? Нет — это в прошлом. Программное обеспечение ZSX Guidance, с встроенной экспертизой XRF и знаниями опытных специалистов, заботится о сложных настройках. Операторы просто вводят основную информацию об образцах, компонентах анализа и стандартном составе. Измеренные линии с наименьшим перекрытием, оптимальные фоны и параметры коррекции (включая перекрытие линий) автоматически устанавливаются с помощью качественных спектров.

Исключительная производительность XRF для легких элементов с инвертированной оптикой для превосходной надежности

ZSX PrimusIV оснащен инновационной конфигурацией оптики сверху. Больше не нужно беспокоиться о загрязнении пути луча или простоях из-за обслуживания камеры образца. Геометрия оптики сверху устраняет проблемы с очисткой и увеличивает время работы. Обеспечивая превосходную производительность с гибкостью для анализа самых сложных образцов, спектрометр ZSX PrimusIV WDXRF оснащен трубкой толщиной 30 микрон, самой тонкой трубкой с оконным концом, доступной в отрасли, для исключительных пределов обнаружения легких элементов (низкий Z).

Картирование и многоточечный анализ XRF

В сочетании с самым передовым пакетом картирования для обнаружения однородности и включений, ZSX PrimusIV позволяет легко проводить детальное рентгеновское флуоресцентное исследование образцов, предоставляющее аналитические данные, которые не так легко получить другими аналитическими методами. Доступный многоточечный анализ также помогает устранить ошибки выборки в неоднородных материалах.

Фундаментальные параметры SQX с программным обеспечением EZ-scan

EZ-scan позволяет пользователям выполнять элементный анализ XRF неизвестных образцов без предварительной настройки. Эта функция экономии времени требует всего несколько кликов мышью и ввода имени образца. В сочетании с программным обеспечением фундаментальных параметров SQX, она обеспечивает максимально точные и быстрые результаты XRF. SQX способен автоматически корректировать все матричные эффекты, включая перекрытие линий. SQX также может корректировать эффект вторичного возбуждения фотоэлектронами (легкие и ультралегкие элементы), изменяющиеся атмосферы, примеси и различные размеры образцов. Повышенная точность достигается с использованием программ анализа библиотеки соответствия и идеального сканирования.

Механизм промывки азотом или гелием

Теперь азотный газ может использоваться в качестве атмосферного газа вместо гелия. При использовании азотного газа диапазон анализа SQX составляет ₁₅P до ₉₆Cm. При измерении в азотной атмосфере стандартный вариант "метод рассеяния SQX FP" не применим.