Узнать цену

Производитель может поднять цены — запросите коммерческое предложение сейчас, и мы зафиксируем за вами текущую цену.

  • Привезем под заказ
  • Срок поставки с завода 6-8 недель

Метрологический инструмент XTRAIA MF-2000 Rigaku

Гарантия 1 год
Производитель:
Rigaku
Онлайн консультант Анна Головацкая
Онлайн консультант Анна Головацкая Получить консультацию эксперта
Производитель:
Rigaku

Инструмент метрологии XRR, EDXRF и XRD

Для состава и толщины (EDXRF), толщины, плотности и шероховатости (XRR) для непаттернированных и паттернированных пленок для пластин до 200 мм

Rigaku XTRAIA MF-2000 выполняет высокоточные измерения, невозможные с помощью оптических или ультразвуковых методов. Этот сложный инструмент рентгеновской метрологии делает практичным выполнение высокопроизводительных измерений на продуктах и заготовках, начиная от ультратонких однослойных пленок до многослойных стеков.

Обзор XTRAIA MF-2000

Разработан для массового производства

XTRAIA MF-2000 разработан с учетом массового производства пластин 200 мм (и меньшего размера): высокопроизводительное измерение толщины с помощью XRR и XRF, низкоконтаминационная обработка пластин и управление положением на основе распознавания паттернов для измерений продуктовых пластин, маркировка CE и соответствие SEMI S2/S8 для работы в чистых помещениях полупроводникового производства, SECS/GEM, высокая надежность работы машины и низкое энергопотребление и стоимость владения. Доступен с открытыми кассетами и конфигурациями SMIF pod.

Монитор толщины и плотности пленки

XTRAIA MF-2000 оснащен HyPix 3000, двухмерным детектором прямого счета фотонов для измерений XRR и XRD с несколькими режимами (0D, 1D, 2D) работы. Этот детектор имеет ~300,000 пикселей с размером пикселя 100 мкм x 100 мкм. Когда рентгеновский фотон падает, каждый сенсор пикселя становится проводящим и может подсчитывать количество падающих фотонов по одному.

Обнаружение XRR в пять раз быстрее

Высокое разрешение и высокий динамический диапазон (10?) позволяют XRR характеризовать широкий диапазон толщин пленок, от ультратонких пленок (менее нм) до толстых пленок (450 нм)

Используя двухмерный детектор и измерение рентгеновской отражательной способности (XRR), скорость измерения XTRAIA MF-2000 была улучшена в пять раз по сравнению с традиционной моделью.

Микрокристаллические тонкие пленки с низкой кристалличностью

Кроме того, возможности XRR и рентгеновской дифракции (XRD) позволяют измерять очень тонкие и низкокристалличные пленки, на которые растет спрос.

Технология COLORS

Rigaku разработала оптику X-ray COLORS для XTRAIA MF-2000, позволяющую проводить измерения с малых областей. Модули луча COLORS соединяют источники рентгеновских трубок с оптимизированной оптикой для обеспечения монохроматического, высоко яркого освещения в малых точках для различных приложений тонких пленок. Имея собственный бизнес по производству рентгеновской оптики, Rigaku хорошо позиционирована для разработки и производства рентгеновских источников для текущих и будущих потребностей рынка.

Приложения передней линии

  • Комбинированное измерение XRR/XRF состава SiGe в затворе плавника
  • Измерение толщины ультратонких пленок до 1 нм
  • Измерение многослойных диэлектрических пленок
  • SiGe, CoSi?, NiSi?, SOl, Al, SiON, Hi-k диэлектрик/металлический затвор

Приложения конечной линии

  • Измерение ультратонких пленок лантана
  • Медное семя, медный барьер, медное покрытие, Ti/TiN, Ta/TaN, W

Другие приложения

  • Измерение XRF вариации толщины в процессе MRAM
  • Измерение XRR физических характеристик в стеке MTJ
  • MgO, CoFeB, Ru, Pt, PZT

Особенности XTRAIA MF-2000

Микро-точечные, монохроматические рентгеновские лучи и распознавание паттернов
Высокопроизводительные измерения продуктовых пластин
Широкий диапазон материалов и приложений
Высокое разрешение и точность, охватывающие толщины от ангстремов до микронов
Для пластин 200 мм (и меньшего размера) с открытыми кассетами и конфигурациями загрузочных портов SMIF
Доступен с коммуникацией SECS/GEM
Дизайн на основе SEMI S2 и SEMI S8

Спецификации XTRAIA MF-2000

Техника Рентгеновская рефлектометрия (XRR), энергодисперсионная рентгеновская флуоресценция (EDXRF), рентгеновская дифракция (XRD)
Преимущество Высокопроизводительное измерение продуктовых пластин от ультратонких пленок до пленок микронного порядка; применимо к широкому диапазону толщин и типов пленок
Технология Процесс микро-точечного XRR, EDXRF и XRD с 2 открытыми загрузочными портами кассет
Атрибуты Метрология заготовок и паттернированных пластин
Выбор монохроматических, микро-точечных рентгеновских модулей луча (COLORS)
Особенности Ультра-быстрый детектор с динамическим диапазоном до 10?
Двойные открытые загрузочные порты кассет
Опции Программное обеспечение SECS/GEM
Загрузочные порты SMIF
Размеры 1612?Ш??3395?Г??2118?В?мм
Результаты измерений EDXRF: Толщина и состав пленки
XRR: Толщина, плотность и шероховатость пленки
Heidolph Unimax 2010 (EU-Plug) Платформа Шейкер орбитальная 542-10020-00
542-10020-00
Heidolph Unimax 2010 (EU-Plug) Платформа Шейкер орбитальная 542-10020-00
Пуско-наладка
Выполним распаковку, визуальную проверку, сборку и установку, запуск и настройку, проверку функциональности, проведем инструктаж персонала.
Техническое обслуживание
Проведем периодические регламентные работы: визуальный осмотр, очистка засоренных узлов и частей, замена расходных материалов и изношенных деталей, тестирование прибора, проверка показателей и измерение параметров, калибровка и настройка, обновление программного обеспечения.
IQ/OQ/PQ квалификация, валидация
Проведем монтажную (IQ), операционную (OQ) и эксплуатационную (PQ) квалификацию оборудования по протоколам производителя в полном соответствии с стандартами GMP/GLP.
Ремонт
Проведем диагностику в нашем сервисном центре или у Вас на предприятии, выявим причину поломки, устраним неисправность, проведем тестирование, настройку, калибровку отремонтированного оборудования.

Получите коммерческое предложение в течение 1 часа

Менеджер подготовит коммерческое предложение и позвонит, если понадобится уточнить детали вашего заказа

Анна Гловацкая Менеджер по работе с клиентами
Получите коммерческое предложение в течение 1 часа
Как к вам обращаться?
Введите телефон
Введите email
Комментарий (если есть)
Прикрепить ТЗ или заявку (до 10 мб)

С 2010 года мы поставляем оборудование с заводов Европы. Берем на себя все — от подбора оборудования до внедрения на предприятии

Обрудование подберут сотрудники с высшим химическим образованием

Все сотрудники имеют высшее образование, закончили ведущие химические вузы страны, такие как РХТУ им Менделеева.

Организуем поставку с завода- изготовителя за 6-8 недель

У большинства компаний срок ожидания составляет 10-12 недель.

Храним оборудование по требованиям производителя

Оборудование хранится на сухом отапливаемом складе, где поддерживается ровная температура.

Доставим по Москве на следующий день, по России — за 3-4 дня

Работаем с PonyExpress и Деловыми линиями. Вы также можете выбрать свою транспортную компанию или забрать товар со склада в Москве.

Выполним бесплатный ремонт и сервисное обслуживание

В случае любых неполадок за свой счет выполним ремонт в сервисном центре или на заводе-изготовителе. Или бесплатно заменим прибор на новый.

Обеспечим легкое внедрение на предприятие

Производим пуско-наладку оборудования, валидацию, обучение сотрудников. Если нужно, привлекаем инженеров с заводов- изготовителей.

Отзывы

Узнать цену

Производитель может поднять цены — запросите коммерческое предложение сейчас, и мы зафиксируем за вами текущую цену.

  • Привезем под заказ
  • Срок поставки с завода 6-8 недель

Метрологический инструмент XTRAIA MF-2000 Rigaku

Гарантия 1 год
Производитель:
Rigaku
Онлайн консультант Анна Головацкая
Онлайн консультант Анна Головацкая Получить консультацию эксперта

Похожие товары: