Конфокальный Раман микроскоп SENTERRA II Bruker

Раман микроскоп SENTERRA II позволяет измерять Раман спектры и получать спектральную информацию с высоким пространственным разрешением.Анализ выполняется бесконтактным способом без необходимости пробоподготовки. Получаемые химические изображения поверхности образца имеют очень высокое пространственное разрешение (менее одного микрона) за счет использования оптического микроскопа OLYMPUS BX53M. Конфокальный микроскоп имеет возможность профилирования по глубине оптически прозрачных образцов, что позволяет проводить неразрушающий анализ в трех измерениях. Как инструмент обнаружения, дифференциации и идентификации органических и неорганических материалов SENTERRA II имеет широкий спектр применений, который может быть расширен за счет применения охлаждаемых и нагреваемых предметных столиков.

Основные преимущества:
интуитивно понятное программное обеспечение и высокий уровень автоматизации;
высокая точность волнового числа и измерения благодаря технологии SureCAL;
спектральное разрешение — до 1,5 см-1;
пространственное разрешение — 0,5 мкм;
конфокальное разрешение — 2 мкм;
компактная конструкция со встроенным в микроскоп спектрометром;
полный спектральный диапазон со всеми решетками;
подключение до 3 лазеров возбуждения с возможностью быстрого переключения;
комбинация с технологией Фурье-Раман для минимизации флуоресценции;
исполнение с открытой архитектурой для исследования больших образцов.

Тип	Микроскоп
Метод анализа	Раман
Корпус спектрометра	Герметичный
Детекторы	CCD
Лазер	1064 нм, 785 нм, 633 нм, 532 нм, 488 нм
Расширение спектрального диапазона	Расширяемый
Стандартное спектральное разрешение	4 см-1
Тип образцов	жидкости, микрообъекты, твердые
Максимальный спектральный диапазон	От 4200 см¯¹ до 50 см¯¹
Максимальное спектральное разрешение	1,5 см¯¹